Aparatura
ScatterX78
Osoba kontaktowa:
Marciszko-Wiąckowska Marianna
Opis techniczny:
Komora ScatterX78 umożliwia jednoczesny pomiar w próżni SAXS i WAXS. Pomiar możliwy jest już dla rozmiarów obiektów od 1 nm w wymiarach 1D i 2D. Dodatkowo zaproponowane rozszerzenie aparatury badawczej pozwala na prowadzenie bad…
Dyfraktometr rentgenowski z przystawką SAXS/WAXS
Osoba kontaktowa:
Marciszko-Wiąckowska Marianna
Opis techniczny:
Dyfraktometr proszkowy Panalytical Empyrean z lampą Cu. Pozwala prowadzić pomiary w geometrii wiązki Bragg-Brentano z użyciem szczelin kolimacyjnych oraz w geometrii wiązki równoległej (lustro Goebla). Dyfraktometr wyposażony w wysokocz…
Dyfraktometr rentgenowski z przystawką wysokotemperaturową
Osoba kontaktowa:
Marciszko-Wiąckowska Marianna
Opis techniczny:
Dyfraktometr proszkowy Panalytical Empyrean z lampą Co. Pozwala prowadzić pomiary w geometrii wiązki Bragg-Brentano z użyciem szczelin kolimacyjnych oraz w geometrii wiązki równoległej (lustro Goebla). Wyposażony są w wysokoczuły detektor (PI…
Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów galu (FIB/SEM)
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Versa 3D wyposażony jest w działo elektronowe z emisją polową (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Ga+ (FIB - Focused Ion Beam). Umożliwia pracę z napięciem przyspieszającym…
Maszyna wytrzymałościowa Instron 5982
Osoba kontaktowa:
Cios Grzegorz
Opis techniczny:
Maksymalne obciążenie 100 kN. Wysokość przestrzeni roboczej 1430 mm. Dokładność pomiaru siły +/- 0.5% odczytu w dół do 1/500 zakresu głowicy pomiarowej (głowicy pomiarowej serii 2580). Akwizycja danych z częstotliwością próbkowania do …
Nanoindenter in-situ FT-NMT04
Osoba kontaktowa:
Kawałko Jakub
Opis techniczny:
Nanoindenter in-situ FT-NMT04 umożliwia prowadzenie szeregu testów mikro-mechanicznych w połączeniu z jednoczesną obserwacją testowanej próbki w komorze elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM): Nanoindentację Testy ściskania mikro-…
Dwuwiązkowy ultra-wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów ksenonu (PFIB/SEM) wraz z mikroskopem sił atomowych (AFM)
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Dwuwiązkowy, ultra-wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy Helios 5 wyposażony jest w wysokostabilne, monochromatyczne działo elektronowe z emisją polową Schottky'ego (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Xe (PFIB - …
Napylarka wysokopróżniowa Q150T E Quorum Technologies
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Urządzenie umożliwia nanoszenie cienkich, amorficznych warstw węgla (C) o wysokiej czystości i dużej gęstości na powierzchni próbek nieprzewodzących, w celu poprawy przewodności elektrycznej próbek analizowanych przy użyciu skanin…
Tribometr trzpień-tarcza TRB³ Anton Paar
Osoba kontaktowa:
Gajewska Marta
Opis techniczny:
Urządzenie pozwala na badanie właściwości tribologicznych szerokiej gamy materiałów w różnych trybach: ruchu (liniowy, posuwisto-zwrotny), styku (trzpień, kula), prędkości i smarowania.
Tribometr charakteryzują następujące par…
Transmisyjny mikroskop elektronowy (TEM) Tecnai TF 20 X-TWIN (FEI)
Osoba kontaktowa:
Gajewska Marta
Opis techniczny:
Tecnai TF 20 X-TWIN (200 kV) jest wysokorozdzielczym transmisyjnym mikroskopem elektronowym wyposażonym w działo elektronowe z emisją polową (Field Emission Gun - FEG). Mikroskop umożliwia obrazowanie mikrostruktury szerokiej gamy materiałów …
