Aparatura
System Pulsacyjnej Ablacji Laserowej
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Naumov Andrii
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        System PLD umożliwia wytwarzanie warstw epitaksjalnych, wielowarstwowych heterostruktur, supersieci i warstw amorficznych z różnych materiałów (metale, niemetale, tlenki, ceramika itp.). System PLD jest wyposażony w karuzelę z 6 miejsc…
      
    System do wysokorozdzielczej litografii elektronowej
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Jurzecka-Szymacha Maria
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        W pomieszczeniu czystym klasy 100 znajduje się urządzenie do litografii elektronowej (Raith eLine+). Układ składa się z działa elektronowego, detektora elektronów wtórnych, detektora in-lens, interferometru laserowe…
      
    Mikroskop metalograficzny (clean room) Nikon Eclipse LV150N
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Jurzecka-Szymacha Maria
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Mikroskop świetlny (LM) umożliwia obrazowanie w świetle odbitym w jasnym polu (BF), ciemnym polu (DF), świetle spolaryzowanym (POL) oraz kontraście interferencyjnym tzw. kontraście Nomarskiego (DIC). Posiada w pełni zmotoryzowany stolik (X,Y,Z), poz…
      
    Chłodziarka rozcieńczalnikowa z magnesem
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Chrobak Maciej
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Chłodziarka rozcieńczalnikowa 3He/4He pracująca w cyklu zamkniętym pozwala na osiągnięcie i ustabilizowanie temperatur w zakresie od 10 mK do 30 K. Moc chłodząca w temperaturze 100 mK wynosi 200 µW, a w 20 mK 4 µW. Zintegrowany magnes na…
      
    Analizator sorpcji gazów
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Jabłoński Piotr
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Analizator sorpcji umożliwia określenie ilości zabsorbowanego przez próbkę gazu, w kontrolowanych warunkach ciśnienia i temperatury, przy zastosowaniu metody wolumetrycznej Sieverts'a. Może być wykorzystywany do analizy sorpcji H2, CO2, C…
      
    Profilometr do pomiarów warstw o wymiarach nanometrycznych
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Jurzecka-Szymacha Maria
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Profilometr igłowy stykowy służący badaniu chropowatości oraz falistości powierzchni z rozdzielczością 1 A oraz powtarzalnością na poziomie 4 A≤ (angstrem).
      
    Zintegrowany System Pomiarów Mossbauerowskich
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Cieślak Jakub
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Standardowy tor spektrometryczny z detektorem proporcjonalnym (ksenonowym) z oprogramowaniem.
	Kaseta NIM z zasilaczem
	Detektor proporcjonalny, ksenonowy, w osłonie z blach ołowianych
	Zasilacz wysokiego napięcia Wzmacniacz i dyskryminator K…
      
    Magnetometr VSM z kriostatem
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Szkudlarek Aleksandra
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Magnetometr wibracyjny, typ 7407 firmy LakeShore, wuposażony w kriostat i piec pozwala na pomiar namagnesowania w funkcji temperatury (w zakresie od temperatury ciekłego azotu do 1000 ºC), w funkcji zewnętrznego pola magnetycznego (do 2.5 Tesla…
      
    Chromatograf gazowy GC-MS/TCD – Shimadzu GCMS-QP2020(EI)
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Mech Krzysztof
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Chromatograf gazowy wyposażony w detektory MS oraz TCD, umożliwiający analizę jakościową oraz ilościową składu fazy gazowej.
Konfiguracja:
MS – gaz nośny: He, kolumna: Agilent J&W HP-PLOT/U; l=30m; d=0.53 mm, zakres temperatury: 60 &…
      
    Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją falową (WD-XRF) Rigaku ZSX Primus IV
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Mech Krzysztof
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        ZSX Primus IV to spektrometr XRF z dyspersją długości fali do jakościowej, półilościowej i ilościowej analizy pierwiastków. Jest w stanie wykrywać pierwiastki od Be do U.
Specyfikacja:
Zakres analizowanych pierwiastków: Be…
      
     
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
      