Aparatura
Frezarka CNC EBERLE FRP 600
Osoba kontaktowa:
Błoniarz Remigiusz
Opis techniczny:
Frezarka CNC o konstrukcji bramowej, z magazynem na 8 narzędzi. Maszyna trójosiowa zapewniająca przesuwy osi: X= 320 mm, Y=250 mm, Z=250 mm. Powierzchnia robocza stołu wynosi 500x250 mm. Zakres obrotów wrzeciona 20-8000 obr/min, prędko…
Termowaga, kalorymetr
Osoba kontaktowa:
Kargul Tomasz
Opis techniczny:
Badania zmian właściwości termicznych materiałów pod wpływem zastosowanego programu temperaturowego oraz atmosfery pomiarowej. Urządzenie wyposażone jest w wagę o rozdzielczości 0.1 µg oraz piec pozwalający na wykonywanie badań w zakres…
FIB-SEM, skaningowy mikroskop elektronowy SEM z działem jonowym FIB
Osoba kontaktowa:
Kruk Adam
Opis techniczny:
FIB-SEM Crossbeam 350 z kolumną GEMINI i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (…
Profilometr optyczny
Osoba kontaktowa:
Rozmus-Górnikowska Magdalena
Opis techniczny:
Tryb pionowej interferometrii skanującej, tryb interferometrii przesunięcia fazowego oraz tryb łączący obydwie powyższe techniki. Pionowy zakres skanowania 10 mm ze sprzężeniem zwrotnym w zamkniętej pętli dla całego zakresu skanowania. Kamera …
Nanotwardościomierz i Nano-Scratch Tester firmy CSM Instruments
Osoba kontaktowa:
Radziszewska Agnieszka
Opis techniczny:
Nanotwardościomierz: Urządzenie służy do pomiaru twardości materiałów o drobnokrystalicznej strukturze, cienkich warstw. Wykonywanie pomiarów pojedynczych i cyklicznych. Możliwość nanoszenia obciążenia od 0,05 mN do 500 mN. Wyposażone …
Prasa 500
Osoba kontaktowa:
Lisiecki Łukasz
Opis techniczny:
Prasa hydrauliczna o maksymalnym nacisku 5 MN. Urządzenie posiada unikalną wśród tego typu maszyn możliwość pracy ze stałą prędkością odkształcenia. Prasa zaprojektowana została do odkształcania materiałów w dwóch zakresach pręd…
Zestaw do jonowego polerowania i trawienia materiałów
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Działo jonów Ar typu Penning, pracujące przy napięciu w zakresie od 0kV do 6kV Możliwość obserwacji próbki podczas procesu polerowania i cięcia przy użyciu stereoskopu Zakres polerowania próbek: średniacy 50 mm, wysokość 25 mm T…
Skaningowy mikroskop elektronowy Nova Nano SEM 450
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…
Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…
Skaningowy kalorymetr różnicowy
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Konstrukcja dwupiecowa Zasada pomiaru : Kompensacyjna Materiał pieca: 90% stopu platyny Czujniki temperatury: Rozproszone, platynowe termometry oporowe Zakres -180˚C do 750˚C Dokładność ±0,05˚C Pecyzja ±0,008˚C Punkty danych/s 33…
