Aparatura
Wielofunkcyjny robot do prasy hydraulicznej 500T
Osoba kontaktowa:
Lisiecki Łukasz
Opis techniczny:
1. Robot przemysłowy – Kawasaki RS030N
• maksymalny udźwig: 30 kg
• liczba osi swobody: 6
• maksymalny zasięg: 2100 mm
• masa robota (ramię): 555 kg
• powtarzalności: ≤ ±0.03mm , (±0.06 …
Skaner 3D - Gom2
Jednostka:
Katedra Informatyki Stosowanej i Modelowania
Osoba kontaktowa:
Perzyński Konrad
Opis techniczny:
Skaner bezstykowy GOM Scan 1 to zaawansowane urządzenie oparte na technologii niebieskiego światła oraz projekcji prążków GOM stosowane w inżynierii odwrotnej do cyfryzacji analizowanych wyrobów i obiektów. GOM Scan 1 jest wypos…
Transmisyjny mikroskop elektronowy
Osoba kontaktowa:
Kruk Adam
Opis techniczny:
FEI Tecnai G2 20 TWIN jest transmisyjnym mikroskopem elektronowym, który pełni rolę urządzenia pomocniczego i służącego do wstępnej analizy, jakości wykonanych próbek oraz przeprowadzenia wstępnych badań strukturalnych. Jest on wyposaż…
Skaningowy mikroskop elektronowy, SEM
Osoba kontaktowa:
Kruk Adam
Opis techniczny:
MERLIN z kolumną GEMINI II i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (AsB), 3DSM i…
Wysokorozdzielczy transmisyjny mikroskop elektronowy
Osoba kontaktowa:
Kruk Adam
Opis techniczny:
Wysokorozdzielczy analityczny transmisyjny mikroskop elektronowy (zdolność rozdzielcza równa jest 70 pm) z unikalnym oprzyrządowaniem. Jest on wyposażony w działo elektronowe X-FEG z monochromatorem, korektor aberracji sferycznej układu konde…
Frezarka CNC EBERLE FRP 600
Osoba kontaktowa:
Błoniarz Remigiusz
Opis techniczny:
Frezarka CNC o konstrukcji bramowej, z magazynem na 8 narzędzi. Maszyna trójosiowa zapewniająca przesuwy osi: X= 320 mm, Y=250 mm, Z=250 mm. Powierzchnia robocza stołu wynosi 500x250 mm. Zakres obrotów wrzeciona 20-8000 obr/min, prędko…
Termowaga, kalorymetr
Osoba kontaktowa:
Kargul Tomasz
Opis techniczny:
Badania zmian właściwości termicznych materiałów pod wpływem zastosowanego programu temperaturowego oraz atmosfery pomiarowej. Urządzenie wyposażone jest w wagę o rozdzielczości 0.1 µg oraz piec pozwalający na wykonywanie badań w zakres…
FIB-SEM, skaningowy mikroskop elektronowy SEM z działem jonowym FIB
Osoba kontaktowa:
Kruk Adam
Opis techniczny:
FIB-SEM Crossbeam 350 z kolumną GEMINI i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (…
Profilometr optyczny
Osoba kontaktowa:
Rozmus-Górnikowska Magdalena
Opis techniczny:
Tryb pionowej interferometrii skanującej, tryb interferometrii przesunięcia fazowego oraz tryb łączący obydwie powyższe techniki. Pionowy zakres skanowania 10 mm ze sprzężeniem zwrotnym w zamkniętej pętli dla całego zakresu skanowania. Kamera …
Nanotwardościomierz i Nano-Scratch Tester firmy CSM Instruments
Osoba kontaktowa:
Radziszewska Agnieszka
Opis techniczny:
Nanotwardościomierz: Urządzenie służy do pomiaru twardości materiałów o drobnokrystalicznej strukturze, cienkich warstw. Wykonywanie pomiarów pojedynczych i cyklicznych. Możliwość nanoszenia obciążenia od 0,05 mN do 500 mN. Wyposażone …
