Aparatura
System do analizy półprzewodników Keithley 4200-SCS
Osoba kontaktowa:
Mazur Tomasz
Opis techniczny:
System pomiarowy Keithley 4200-SCS jest modularnym, zintegrowanym rozwiązaniem pomiarowym przeznaczonym do badań materiałów, elementów półprzewodnikowych oraz związanych z nimi procesów. Urządzenie zapewnia pełną charakte…
Spektrometr fotoelektronów XPS
Osoba kontaktowa:
Marzec Mateusz
Opis techniczny:
Spektrometr fotoelektronów emitowanych pod wpływem naświetlania promieniowaniem rentgenowskim (XPS) lub ultrafiloteowym (UPS) służy do analizy składu i stanów chemicznych pierwiastków na powierzchni badanego materiału. Laborator…
Spektrometr fotoelektryczny
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Układ pomiarowy złożony z cyfrowo sterowanego źródła światła (lampa ksenonowa XBO150, monochromator, zestaw filtrów krawędziowych, migawka, układ stabilizacji natężenia światła), kalibrowanej fotodiody, dedykowanego potencjostatu oraz …
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją falową (WD-XRF) Rigaku ZSX Primus IV
Osoba kontaktowa:
Mech Krzysztof
Opis techniczny:
ZSX Primus IV to spektrometr XRF z dyspersją długości fali do jakościowej, półilościowej i ilościowej analizy pierwiastków. Jest w stanie wykrywać pierwiastki od Be do U.
Specyfikacja:
Zakres analizowanych pierwiastków: Be…
Transmisyjny mikroskop elektronowy
Osoba kontaktowa:
Kruk Adam
Opis techniczny:
FEI Tecnai G2 20 TWIN jest transmisyjnym mikroskopem elektronowym, który pełni rolę urządzenia pomocniczego i służącego do wstępnej analizy, jakości wykonanych próbek oraz przeprowadzenia wstępnych badań strukturalnych. Jest on wyposaż…
Skaningowy mikroskop elektronowy, SEM
Osoba kontaktowa:
Kruk Adam
Opis techniczny:
MERLIN z kolumną GEMINI II i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (AsB), 3DSM i…
Skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonowym (SEM/FIB)
Osoba kontaktowa:
Gajewska Marta
Opis techniczny:
Mikroskop Quanta 3D 200i typu „dual beam” (SEM/FIB) jest urządzeniem dedykowanym do preparatyki cienkich folii do badań TEM/STEM. Instrument wyposażony jest w dwa działa: elektronowe (włókno wolframowe) oraz jonowe (Ga+), sy…
Wysokorozdzielczy transmisyjny mikroskop elektronowy
Osoba kontaktowa:
Kruk Adam
Opis techniczny:
Wysokorozdzielczy analityczny transmisyjny mikroskop elektronowy (zdolność rozdzielcza równa jest 70 pm) z unikalnym oprzyrządowaniem. Jest on wyposażony w działo elektronowe X-FEG z monochromatorem, korektor aberracji sferycznej układu konde…
Drukarka 3D metodą spiekania laserowego
Jednostka:
Katedra Systemów Wytwarzania
Osoba kontaktowa:
Dudek Piotr
Opis techniczny:
Drukarka 3D wtwarzająca elementy metodą selektywnego spiekania proszków tworzyw sztucznych w ochronnej atmosferze azotu z wykorzystaniem lasera CO2
Skanujący wibrometr laserowy (SLDV)
Jednostka:
Katedra Robotyki i Mechatroniki
Osoba kontaktowa:
Pieczonka Łukasz
Opis techniczny:
Uniwersalne narzędzie umożliwiające analizę i wizualizację drgań strukturalnych w szerokim paśmie częstotliwości (od 0 do 25 MHz) oraz bardzo wysokiej dokładności (<1𝑝𝑚/√𝐻𝑧 lub <0.1 μm/s/√𝐻𝑧). Zastosowanie światła laseroweg…
