Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Spektrometr odwrotnej fotoemisji LEIPS

Osoba kontaktowa: Marzec Mateusz
Opis techniczny: Spektrometr odwrotnej fotoemisji LEIPS (Low Energy Inverse Photoemission Spectroscopy) pozwala wyznaczyć strukturę elektronową nieobsadzonych poziomów energetycznych pasma przewodnictwa materiałów półprzewodnikowych. Jego zasada…

Spektrometr fotoelektronów XPS

Osoba kontaktowa: Marzec Mateusz
Opis techniczny: Spektrometr fotoelektronów emitowanych pod wpływem naświetlania promieniowaniem rentgenowskim (XPS) lub ultrafiloteowym (UPS) służy do analizy składu i stanów chemicznych pierwiastków na powierzchni badanego materiału. Laborator…

Układ do ultraszybkiej spektroskopii stanów wzbudzonych w zakresie od ultrafioletu do podczerwieni

Osoba kontaktowa: Szaciłowski Konrad
Opis techniczny: enVISion™ zapewnia szerokopasmową nanosekundową spektroskopię absorpcji przejściowej, która płynnie mierzy widmo w zakresie UV, widzialnym i bliskiej podczerwieni z rozdzielczością czasową 5 ns i czasem opóźnienia do milisekund. …

Aparatura do hipertermii - urządzenie do indukcyjnego nagrzewania roztworów nanocząstek firmy DACPOL, wykorzystujące generator firmy AMBRELL

Osoba kontaktowa: Kmita Angelika
Opis techniczny: Aparatura do hipertermii - urządzenie do indukcyjnego nagrzewania roztworów nanocząstek firmy DACPOL, wykorzystujące generator firmy AMBRELL Urządzenie do indukcyjnego nagrzewania roztworów  nanocząstek magnetycznych składa si…

Kwadrupolowy spektrometr mas HPR-20 R&D (MS)

Osoba kontaktowa: Kmita Angelika
Opis techniczny: Kwadrupolowy spektrometr mas  HPR-20 R&D (MS) sprzężony z termograwimetrem Q600 TA Instruments (TG).  Układ TG/DSC-MS umożliwia analizę jakościową i ilościową uwalnianych gazów i par wydzielających się w trakcie ogrzewania pr&oa…

Elipsometr spektroskopowy

Osoba kontaktowa: Mazur Tomasz
Opis techniczny: Elipsometr spektroskopowy SER-850 jest urządzeniem działającym w zakresie od ultrafioletu do bliskiej podczerwieni, służącym do pomiaru grubości oraz podstawowych właściwości optycznych cienkich warstw oraz struktur wielowarstwowych. Urządzenie pozw…

Uniwersalna maszyna wytrzymałościowa MTS 810

Osoba kontaktowa: Machniewicz Tomasz
Opis techniczny: Dwukolumnowa, uniwersalna serwohydrauliczna maszyna wytrzymałościowa umożliwiająca prowadzenia jednoosiowych badań statycznych i zmęczeniowych pod kontrolą siły, przemieszczenia lub dowolnego czujnika analogowego używanego w trakcie badań (np. tenso…

Aparat do pomiaru wielkości sorpcji NOVA 800 Anton Paar

Osoba kontaktowa: Bajda Tomasz
Opis techniczny: NOVA 800 Anton Paar jest analizatorem do pomiaru sorpcji gazów i wyznaczania powierzchni BET, wielkości, objętości i rozkładu mikro- i mezo-porów w proszkach i materiałach porowatych.   Charakterystyka aparatu: sorpcja ga…

Zestaw modułowych spektrometrów optycznych (Ocean Insight)

Osoba kontaktowa: Matuszak Zenon
Opis techniczny: Zestaw obejmuje kilka kompaktowych światłowodowych spektrometrów optycznych, które można konfigurować pod kątem prowadzonych pomiarów. W skład zestawu wchodzą spektrometry : QE-Raman, Flame-VIS-NIR, Flame-NIR, Ocean-HDX-XR, Flam…

Platforma do badań mechanicznych właściwości powierzchni Anton Paar Step 500

Osoba kontaktowa: Drenda Cezary
Opis techniczny: Platforma do badań mechanicznych właściwości powierzchni firmy Anton Paar model Step 500 wyposażona jest: głowicę NHT3 (nano hardness tester); głowicę MCT3 (micro combi tester); głowica optyczną zapewniająca powiększenie 5,20,50,100 krotne…