Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Maszyna wytrzymałościowa INSTRON 5966

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Maksymalne obciążenie 10 kN. Wyposażona dodatkowo w głowicę do 1 kN oraz szczęki pneumatyczne z zestawem wkładek (np. do badania taśm).

Mikroskop metalograficzny Nikon Eclipse LV150N

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Mikroskop świetlny (LM) umożliwia obrazowanie w świetle odbitym w jasnym polu (BF), ciemnym polu (DF), świetle spolaryzowanym (POL) oraz kontraście interferencyjnym tzw. kontraście Nomarskiego (DIC). Posiada w pełni zmotoryzowany stolik (X,Y,Z), poz…

Walcarka FSM 130 DURSTON

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Walcowanie płaskowników oraz prętów kwadratowych miękkich metali i stopów na zimno.

Urządzenie do polerowania elektrolitycznego cienkich folii TenuPol

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: TenuPol-5 jest przeznaczony do automatycznego elektrolitycznego pocieniania próbek do badania w transmisyjnym mikroskopie elektronowym. Ustalanie parametrów dla nowych materiałów i przechowywanie ich w bazie danych metod jest pr…

Piece łukowe Mini Arc Melter

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Urządzenia te służą do syntezy stopów o masie 5-20 g, w tym materiałów wysokotopliwych, w wyniku przetapiania w łuku elektrycznym. Piece posiadają wbudowaną pompę rotacyjną, elektrodę wolframową oraz generator 180 A. Proces topien…

Piece do 1300°C

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Cztery piece oporowe ze sterownikiem bez atmosfery ochronnej czy też próżni.

Detektory EBSD i EDS

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Detektor EBSD Symmetry S2 jest zamontowany w skaningowym mikroskopie elektronowym (SEM) Versa 3D w laboratorium skaningowej mikroskopii elektronowej ACMIN. Pozwala na: -analizę lokalnej tekstury oraz składu fazowego materiałów krystalicznych.…

Skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonowym (SEM/FIB)

Osoba kontaktowa: Gajewska Marta
Opis techniczny: Mikroskop Quanta 3D 200i typu „dual beam” (SEM/FIB) jest urządzeniem dedykowanym do preparatyki cienkich folii do badań TEM/STEM. Instrument wyposażony jest w dwa działa: elektronowe (włókno wolframowe) oraz jonowe (Ga+),  sy…

Niskotemperaturowy skaningowy mikroskop tunelowy

Osoba kontaktowa: Trembułowicz Artur
Opis techniczny: Mikroskop wykorzystuje kwantowe zjawisko tunelowania elektronów pomiędzy próbką a ostrzem skanującym. Mikroskop pozwala m.in. na obserwowanie powierzchni próbki z rozdzielczością atomową, obrazowanie struktury cząsteczek, defekt…

System Pulsacyjnej Ablacji Laserowej

Osoba kontaktowa: Naumov Andrii
Opis techniczny: System PLD umożliwia wytwarzanie warstw epitaksjalnych, wielowarstwowych heterostruktur, supersieci i warstw amorficznych z różnych materiałów (metale, niemetale, tlenki, ceramika itp.). System PLD jest wyposażony w karuzelę z 6 miejsc…