Aparatura
Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…
Skaningowy kalorymetr różnicowy
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Konstrukcja dwupiecowa Zasada pomiaru : Kompensacyjna Materiał pieca: 90% stopu platyny Czujniki temperatury: Rozproszone, platynowe termometry oporowe Zakres -180˚C do 750˚C Dokładność ±0,05˚C Pecyzja ±0,008˚C Punkty danych/s 33…
Mikroskop ze skanującą sondą (Mikroskop sił bliskiego zasięgu)
Osoba kontaktowa:
Cieniek Łukasz
Opis techniczny:
Tryby pracy: AFM – mikroskop sił atmowych LFM – mikroskop sił poprzecznych MFM – mikroskop sił magnetycznych EFM – mikroskop sił elektrycznych PeakForce QNM - obrazowanie własności nano-mechanicznych na podstawie analizy krzy…
