Aparatura
Profilometr do pomiarów warstw o wymiarach nanometrycznych
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
Profilometr igłowy stykowy służący badaniu chropowatości oraz falistości powierzchni z rozdzielczością 1 A oraz powtarzalnością na poziomie 4 A≤ (angstrem).
System do trawienia jonowego i nanoszenia warstw
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
W pomieszczeniu czystym klasy 1000 znajduje się urządzenie do trawienia jonowego i nanoszenia cienkich warstw Microsystems IonSys 500. System jest wyposażony w działo jonowe wraz z detektorem SIMS, który umożliwia trawien…
Potencjostat/galwanostat Biologic SP-300
Osoba kontaktowa:
Mech Krzysztof
Opis techniczny:
Dwukanałowy potencjostat/galwanostat BioLogic SP-300 z modułem EIS umożliwia wykonanie podstawowych pomiarów elektorchemicznych, badań właściwości elektrokatalitycznych, analizę kinetyki oraz mechanizmu reakcji elektrodowych jak równie…
Spektrometr FTIR do pomiarów widm w podczerwieni
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Spektrometr FTIR Tensor II firmy Bruker wyposażony jest w:
przystawkę do pomiarów osłabionego całkowitego odbicia ATR ( Attenuated Total Reflectance) z monolitycznym kryształem diamentowym umożliwiającą pomiar w zakresie 350-8000 cm-1, …
Czytnik płytek wielodołkowych (Infinite M Nano, Tecan)
Osoba kontaktowa:
Wytrwał Magdalena
Opis techniczny:
Czytnik płytek wielodołkowych (Infinite M Nano, Tecan). Urządzenie wyposażone jest w dwa monochromatory (ksenonowa lampa UV) do wzbudzenia pozwalające na wykonanie pełnego skanu absorbancji, moduł odczytu absorbancji w zakresie 230-1000 nm z możliwo…
Kwadrupolowy spektrometr mas HPR-20 R&D (MS)
Osoba kontaktowa:
Kmita Angelika
Opis techniczny:
Kwadrupolowy spektrometr mas HPR-20 R&D (MS) sprzężony z termograwimetrem Q600 TA Instruments (TG). Układ TG/DSC-MS umożliwia analizę jakościową i ilościową uwalnianych gazów i par wydzielających się w trakcie ogrzewania pr&oa…
Analizator SDT Q600 firmy TA INSTRUMENTS
Osoba kontaktowa:
Kmita Angelika
Opis techniczny:
Analizator różnicowej kalorymetrii skaningowej DSC i termograwimetrii TG.
System do analizy półprzewodników Keithley 4200-SCS
Osoba kontaktowa:
Mazur Tomasz
Opis techniczny:
System pomiarowy Keithley 4200-SCS jest modularnym, zintegrowanym rozwiązaniem pomiarowym przeznaczonym do badań materiałów, elementów półprzewodnikowych oraz związanych z nimi procesów. Urządzenie zapewnia pełną charakte…
Stanowisko do pomiaru oporu cienkich warstw metodą czteropunktową w zewnętrznym polu magnetycznym
Osoba kontaktowa:
Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny:
Urządzenie Nanometer 1.0 umożliwia pomiar oporu i charakterystykę prądowo-napieciową cienkich warstw metodą czteropunktową w zakresie od mOhm do MOhm. Możliwe jest również pomiar magnetooporu, poprzez przyłożenie małego pola magnetycznego 50 …
Zetasizer wraz z układem titrującym i celką do pomiaru potencjału zeta na ciele stałym
Osoba kontaktowa:
Wytrwał Magdalena
Opis techniczny:
Zetasizer Nano ZS (Malvern Instruments Ltd., Worcestershire, UK) to urządzenie służące do charakterystyki takich materiałów jak nanocząstki, koloidy, białka, liposomy czy mikroemulsje. Analizator pozwala na uzyskanie parametrów fizykoc…
