Aparatura
Elektronika sterująca głowicą skaningowego mikroskopu tunelowego
Osoba kontaktowa:
Naumov Andrii
Opis techniczny:
„RHK R9plus SPM control system” jest częścią skaningowego mikroskopu tunelowego (STM) i jest obecnie najnowszą elektroniką sterującą aparaturą SPM firmy RHK, zalecaną do przeprowadzania zaawansowanych pomiarów STM. System ten wyr&…
Nanoindenter in-situ FT-NMT04
Osoba kontaktowa:
Kawałko Jakub
Opis techniczny:
Nanoindenter in-situ FT-NMT04 umożliwia prowadzenie szeregu testów mikro-mechanicznych w połączeniu z jednoczesną obserwacją testowanej próbki w komorze elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM): Nanoindentację Testy ściskania mikro-…
Magnetometr VSM z kriostatem
Osoba kontaktowa:
Sikora Marcin
Opis techniczny:
Magnetometr wibracyjny, typ 7407 firmy LakeShore, wuposażony w kriostat i piec pozwala na pomiar namagnesowania w funkcji temperatury (w zakresie od temperatury ciekłego azotu do 1000 ºC), w funkcji zewnętrznego pola magnetycznego (do 2.5 Tesla…
Mikroskop sił atomowych sprzężony z nanoindenterem
Osoba kontaktowa:
Szuwarzyński Michał
Opis techniczny:
Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop pracujący w układzie skanowania sondą. Maksymalny obszar skanowania wynosi 90×90 μm w zakresie poziomym i do 10 μm w zakresie pionowym. Mikro…
Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy (FIB/SEM)
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Versa 3D wyposażony jest w działo elektronowe z emisją polową (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Ga+ (FIB - Focused Ion Beam). Umożliwia pracę z napięciem przyspieszającym…
