Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Spektrometr NMR

Osoba kontaktowa: Krzyżak Artur
Opis techniczny: Spektrometr Magritek Rock Core Analyzer (2 MHz) z systemem dyfuzyjnym, jest dedykowany do badań układów porowatych, w szczególności  typu „tight". Zawiera przystawkę (Thomography system) umożliwiającą wykonywanie k…

Magnetometr VSM z kriostatem

Osoba kontaktowa: Sikora Marcin
Opis techniczny: Magnetometr wibracyjny, typ 7407 firmy LakeShore, wuposażony w kriostat i piec pozwala na pomiar namagnesowania w funkcji temperatury (w zakresie od temperatury ciekłego azotu do 1000 ºC), w funkcji zewnętrznego pola magnetycznego (do 2.5 Tesla…

Mikroskop sił atomowych sprzężony z nanoindenterem

Osoba kontaktowa: Szuwarzyński Michał
Opis techniczny: Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop pracujący w układzie skanowania sondą. Maksymalny obszar skanowania wynosi 90×90 μm w zakresie poziomym i do 10 μm w zakresie pionowym. Mikro…

Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy (FIB/SEM)

Osoba kontaktowa: Berent Katarzyna
Opis techniczny: Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Versa 3D wyposażony jest w działo elektronowe z emisją polową (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Ga+ (FIB - Focused Ion Beam). Umożliwia pracę z napięciem przyspieszającym…

Stanowisko badań właściwości mechanicznych tworzyw ceramicznych

Osoba kontaktowa: Zych Łukasz
Opis techniczny: Maszyna wytrzymałościowa Zwick/Roell Z150 pozwala na wykonywanie pomiarów przy maksymalnym obciążeniu do 150kN. W zależności od zastosowanego osprzętu można wykonywać pomiary przy zginaniu (trzy i czteropunktowe podparcie) ściskaniu czy rozci…

Stanowisko do pomiaru właściwości termofizycznych materiałów

Osoba kontaktowa: Szumera Magdalena
Opis techniczny: Analizatory różnicowej kalorymetrii skaningowej DSC , termicznej analizy różnicowej DTA, termograwimetrii TG, dyfuzyjności cieplnej metodą laserową oraz dylatometr wysokotemperaturowy.

NOVA NanoSEM 200

Osoba kontaktowa: Ziąbka Magdalena
Opis techniczny: Ultrawysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG– emiter SCHOTKYEGO), współpracujący z analizatorem EDS firmy EDAX. Zdolność rozdzielcza do 2 nm,  powiększenia 70 – 500 000x.

Mikroskop konfokalny

Osoba kontaktowa: Gajek Marcin
Opis techniczny: Olympus LEXT OLS4000 to mikroskop konfokalny o wysokiej rozdzielczości przeznaczony do obrazowania powierzchni 3D oraz pomiarów chropowatości. Powiększenie (optyczne i cyfrowe) tego mikroskopu mieści się w zakresie od 108x do 17 280x. O…

Zestaw do mikroskopii skaningowej

Osoba kontaktowa: Ziąbka Magdalena
Opis techniczny: Mikroskopy SEM z kolumnami elektronowymi (FEG) oraz jonową, galową – Scios 2. Do oprzyrządowania należą spektroskopy EDS (EDAX), katodoluminescencyjny (GATAN AMETEK) oraz masowy jonów wtórnych z pomiarem czasu przelotu – TO…

FIB-SEM, skaningowy mikroskop elektronowy SEM z działem jonowym FIB

Osoba kontaktowa: Kruk Adam
Opis techniczny: FIB-SEM Crossbeam 350 z kolumną GEMINI i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (…