Aparatura
System Pulsacyjnej Ablacji Laserowej
Osoba kontaktowa:
Naumov Andrii
Opis techniczny:
System PLD umożliwia wytwarzanie warstw epitaksjalnych, wielowarstwowych heterostruktur, supersieci i warstw amorficznych z różnych materiałów (metale, niemetale, tlenki, ceramika itp.). System PLD jest wyposażony w karuzelę z 6 miejsc…
System do wysokorozdzielczej litografii elektronowej
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
W pomieszczeniu czystym klasy 100 znajduje się urządzenie do litografii elektronowej (Raith eLine+). Układ składa się z działa elektronowego, detektora elektronów wtórnych, detektora in-lens, interferometru laserowe…
Mikroskop metalograficzny (clean room) Nikon Eclipse LV150N
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
Mikroskop świetlny (LM) umożliwia obrazowanie w świetle odbitym w jasnym polu (BF), ciemnym polu (DF), świetle spolaryzowanym (POL) oraz kontraście interferencyjnym tzw. kontraście Nomarskiego (DIC). Posiada w pełni zmotoryzowany stolik (X,Y,Z), poz…
Chłodziarka rozcieńczalnikowa z magnesem
Osoba kontaktowa:
Chrobak Maciej
Opis techniczny:
Chłodziarka rozcieńczalnikowa 3He/4He pracująca w cyklu zamkniętym pozwala na osiągnięcie i ustabilizowanie temperatur w zakresie od 10 mK do 30 K. Moc chłodząca w temperaturze 100 mK wynosi 200 µW, a w 20 mK 4 µW. Zintegrowany magnes na…
Analizator sorpcji gazów
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
Analizator sorpcji umożliwia określenie ilości zabsorbowanego przez próbkę gazu, w kontrolowanych warunkach ciśnienia i temperatury, przy zastosowaniu metody wolumetrycznej Sieverts'a. Może być wykorzystywany do analizy sorpcji H2, CO2, C…
Bonder typu HB05 z mikroskopem optycznym i stolikiem grzejnym
Osoba kontaktowa:
Chrobak Maciej
Opis techniczny:
Bondera typu HB05 wyposażony w mikroskop optyczny i stolik grzejny umożliwia wykonanie połączeń metalicznych holder-próbka za pomocą drutu złotego lub aluminiowego o grubości 25 µm.
Profilometr do pomiarów warstw o wymiarach nanometrycznych
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
Profilometr igłowy stykowy służący badaniu chropowatości oraz falistości powierzchni z rozdzielczością 1 A oraz powtarzalnością na poziomie 4 A≤ (angstrem).
System do trawienia jonowego i nanoszenia warstw
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
W pomieszczeniu czystym klasy 1000 znajduje się urządzenie do trawienia jonowego i nanoszenia cienkich warstw Microsystems IonSys 500. System jest wyposażony w działo jonowe wraz z detektorem SIMS, który umożliwia trawien…
Próżniowy system do nanoszenia cienkich warstw i wytwarzania nanocząstek
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
Stanowisko laboratoryjne składa się z dwóch próżniowych komór procesowych firmy Mantis, spełniających standardy wysokiej próżni (HV). Pierwsza komora procesowa służy do nanoszenia jednoczesnego lub sekwencyjnego wieloskła…
Napylarka Leica EM ACE600
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
Wysokopróżniowa napylarka Leica EM ACE600 do napylania cienkich warstw z dwóch źródeł różnych metali. W skład układu wchodzą:
wewnętrzna, zintegrowana z systemem membranowa, bezolejowa pompa próżniowa oraz po…
