Aparatura
Spektrometr absorpcji atomowej AAS
Jednostka:
Katedra Mineralogii, Petrografii i Geochemii
Osoba kontaktowa:
Bajda Tomasz
Opis techniczny:
Spektrometr absorpcji atomowej AAS do analiz składu chemicznego roztworów - pierwiastki od Li do U.
Spektrometr posiada funkcje takie jak programowalna skrzynka gazowa, 8 lamp z automatycznym ustawieniem lamp, optymalizacją długości fali i…
System do badań materiałów metodą laserowo generowanych ultradźwięków
Jednostka:
Katedra Robotyki i Mechatroniki
Osoba kontaktowa:
Ambroziński Łukasz
Opis techniczny:
Stanowisko do bdadań nieniszczących metodą laserowo generowanych ultradźwięków służy do badania materiałów konstrukcyjnych takich jak stopy metali, materiały kompozytowe. Urządzenie pozwala na bezkontaktowe wzbudzanie i detekcję fal ul…
Frezarka CNC EBERLE FRP 600
Osoba kontaktowa:
Błoniarz Remigiusz
Opis techniczny:
Frezarka CNC o konstrukcji bramowej, z magazynem na 8 narzędzi. Maszyna trójosiowa zapewniająca przesuwy osi: X= 320 mm, Y=250 mm, Z=250 mm. Powierzchnia robocza stołu wynosi 500x250 mm. Zakres obrotów wrzeciona 20-8000 obr/min, prędko…
Termowaga, kalorymetr
Osoba kontaktowa:
Kargul Tomasz
Opis techniczny:
Badania zmian właściwości termicznych materiałów pod wpływem zastosowanego programu temperaturowego oraz atmosfery pomiarowej. Urządzenie wyposażone jest w wagę o rozdzielczości 0.1 µg oraz piec pozwalający na wykonywanie badań w zakres…
FIB-SEM, skaningowy mikroskop elektronowy SEM z działem jonowym FIB
Osoba kontaktowa:
Kruk Adam
Opis techniczny:
FIB-SEM Crossbeam 350 z kolumną GEMINI i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (…
Rentgenowski skaningowy mikroanalizator fluorescencyjny
Jednostka:
Katedra Fizyki Medycznej i Biofizyki
Osoba kontaktowa:
Szczerbowska-Boruchowska Magdalena
Opis techniczny:
Aparatura wyposażona jest w dwie lampy rentgenowskie małej mocy (30 W) z anodami Rh i Ag. Lampa z anodą Rh wyposażona jest w soczewkę polikapilarną, umożliwiająca uzyskanie wiązki promieniowania rentgenowskiego o średnicy 20 µm. Lampa z anodą …
Profilometr optyczny
Osoba kontaktowa:
Rozmus-Górnikowska Magdalena
Opis techniczny:
Tryb pionowej interferometrii skanującej, tryb interferometrii przesunięcia fazowego oraz tryb łączący obydwie powyższe techniki. Pionowy zakres skanowania 10 mm ze sprzężeniem zwrotnym w zamkniętej pętli dla całego zakresu skanowania. Kamera …
Nanotwardościomierz i Nano-Scratch Tester firmy CSM Instruments
Osoba kontaktowa:
Radziszewska Agnieszka
Opis techniczny:
Nanotwardościomierz: Urządzenie służy do pomiaru twardości materiałów o drobnokrystalicznej strukturze, cienkich warstw. Wykonywanie pomiarów pojedynczych i cyklicznych. Możliwość nanoszenia obciążenia od 0,05 mN do 500 mN. Wyposażone …
Prasa 500
Osoba kontaktowa:
Lisiecki Łukasz
Opis techniczny:
Prasa hydrauliczna o maksymalnym nacisku 5 MN. Urządzenie posiada unikalną wśród tego typu maszyn możliwość pracy ze stałą prędkością odkształcenia. Prasa zaprojektowana została do odkształcania materiałów w dwóch zakresach pręd…
Zestaw do jonowego polerowania i trawienia materiałów
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Działo jonów Ar typu Penning, pracujące przy napięciu w zakresie od 0kV do 6kV Możliwość obserwacji próbki podczas procesu polerowania i cięcia przy użyciu stereoskopu Zakres polerowania próbek: średniacy 50 mm, wysokość 25 mm T…
