Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonowym (SEM/FIB)

Osoba kontaktowa: Gajewska Marta
Opis techniczny: Mikroskop Quanta 3D 200i typu „dual beam” (SEM/FIB) jest urządzeniem dedykowanym do preparatyki cienkich folii do badań TEM/STEM. Instrument wyposażony jest w dwa działa: elektronowe (włókno wolframowe) oraz jonowe (Ga+),  sy…

Magnetometr VSM z kriostatem

Osoba kontaktowa: Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny: Magnetometr wibracyjny, typ 7407 firmy LakeShore, wuposażony w kriostat i piec pozwala na pomiar namagnesowania w funkcji temperatury (w zakresie od temperatury ciekłego azotu do 1000 ºC), w funkcji zewnętrznego pola magnetycznego (do 2.5 Tesla…

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją falową (WD-XRF) Rigaku ZSX Primus IV

Osoba kontaktowa: Mech Krzysztof
Opis techniczny: ZSX Primus IV to spektrometr XRF z dyspersją długości fali do jakościowej, półilościowej i ilościowej analizy pierwiastków. Jest w stanie wykrywać pierwiastki od Be do U. Specyfikacja: Zakres analizowanych pierwiastków: Be…

Spektrometr fotoelektryczny

Osoba kontaktowa: Podborska Agnieszka
Opis techniczny: Układ pomiarowy złożony z cyfrowo sterowanego źródła światła (lampa ksenonowa XBO150, monochromator, zestaw filtrów krawędziowych, migawka, układ stabilizacji natężenia światła), kalibrowanej fotodiody, dedykowanego potencjostatu oraz …

System do analizy półprzewodników Keithley 4200-SCS

Osoba kontaktowa: Mazur Tomasz
Opis techniczny: System pomiarowy Keithley 4200-SCS jest modularnym, zintegrowanym rozwiązaniem pomiarowym przeznaczonym do badań materiałów, elementów półprzewodnikowych oraz związanych z nimi procesów. Urządzenie zapewnia pełną charakte…

Spektrometr FTIR do pomiarów widm w podczerwieni

Osoba kontaktowa: Podborska Agnieszka
Opis techniczny: Spektrometr FTIR Tensor II firmy Bruker wyposażony jest w: przystawkę do pomiarów osłabionego całkowitego odbicia ATR ( Attenuated Total Reflectance) z monolitycznym kryształem diamentowym umożliwiającą pomiar w zakresie 350-8000 cm-1, …

Środowiskowa sonda Kelvina

Osoba kontaktowa: Szaciłowski Konrad
Opis techniczny: Środowiskowa sonda Kelvina służy do pomiaru pracy wyjścia materiałów przewodzących

Laserowy dwuwiązkowy - spektrometr fotoelektryczny

Osoba kontaktowa: Podborska Agnieszka
Opis techniczny: Źródło światła: dwa lasery Opolette 355 z pompą Nd:YAG wyposażoną w optyczne oscylatory parametryczne (OPO) przestrajalne w zakresie 210-2400 nm o szczytowej mocy impulsu rzędu 500 kW. Układ detekcji: elektrochemiczna stacja robocza Z…

Naświetlarka diodowa

Osoba kontaktowa: Podborska Agnieszka
Opis techniczny: Naświetlarka diodowa to urządzenie sterujące diodami LED o mocy do 100 mW. Zestaw diod obejmuje LEDy o długościach światła: 365, 385, 405, 460, 510, 530, 620, 660, 735, 860, 940 nm, a także diody światła białego (3000K, 4000K, 10 000K). Urządzenie p…

Spektrofotometr UV-Vis-NIR Lambda 750 PerkinElmer

Osoba kontaktowa: Podborska Agnieszka
Opis techniczny: Spektrofotometr UV-Vis Lambda 750 Spektrometr posiada dwie komory pomiarowe umożliwiające pomiar próbek ciekłych oraz ciał stałych. Wyposażony jest w sferę całkująca o średnicy 60 mm do pomiarów współczynnika odbicia (reflektanc…