Aparatura
Napylarka wysokopróżniowa Q150T E Quorum Technologies
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Urządzenie umożliwia nanoszenie cienkich, amorficznych warstw węgla (C) o wysokiej czystości i dużej gęstości na powierzchni próbek nieprzewodzących, w celu poprawy przewodności elektrycznej próbek analizowanych przy użyciu skanin…
Transmisyjny mikroskop elektronowy (TEM) Tecnai TF 20 X-TWIN (FEI)
Osoba kontaktowa:
Gajewska Marta
Opis techniczny:
Tecnai TF 20 X-TWIN (200 kV) jest wysokorozdzielczym transmisyjnym mikroskopem elektronowym wyposażonym w działo elektronowe z emisją polową (Field Emission Gun - FEG). Mikroskop umożliwia obrazowanie mikrostruktury szerokiej gamy materiałów …
Skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonowym (SEM/FIB)
Osoba kontaktowa:
Gajewska Marta
Opis techniczny:
Mikroskop Quanta 3D 200i typu „dual beam” (SEM/FIB) jest urządzeniem dedykowanym do preparatyki cienkich folii do badań TEM/STEM. Instrument wyposażony jest w dwa działa: elektronowe (włókno wolframowe) oraz jonowe (Ga+), sy…
Magnetometr VSM z kriostatem
Osoba kontaktowa:
Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny:
Magnetometr wibracyjny, typ 7407 firmy LakeShore, wuposażony w kriostat i piec pozwala na pomiar namagnesowania w funkcji temperatury (w zakresie od temperatury ciekłego azotu do 1000 ºC), w funkcji zewnętrznego pola magnetycznego (do 2.5 Tesla…
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją falową (WD-XRF) Rigaku ZSX Primus IV
Osoba kontaktowa:
Mech Krzysztof
Opis techniczny:
ZSX Primus IV to spektrometr XRF z dyspersją długości fali do jakościowej, półilościowej i ilościowej analizy pierwiastków. Jest w stanie wykrywać pierwiastki od Be do U.
Specyfikacja:
Zakres analizowanych pierwiastków: Be…
Spektrometr fotoelektryczny
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Układ pomiarowy złożony z cyfrowo sterowanego źródła światła (lampa ksenonowa XBO150, monochromator, zestaw filtrów krawędziowych, migawka, układ stabilizacji natężenia światła), kalibrowanej fotodiody, dedykowanego potencjostatu oraz …
System do analizy półprzewodników Keithley 4200-SCS
Osoba kontaktowa:
Mazur Tomasz
Opis techniczny:
System pomiarowy Keithley 4200-SCS jest modularnym, zintegrowanym rozwiązaniem pomiarowym przeznaczonym do badań materiałów, elementów półprzewodnikowych oraz związanych z nimi procesów. Urządzenie zapewnia pełną charakte…
Spektrometr FTIR do pomiarów widm w podczerwieni
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Spektrometr FTIR Tensor II firmy Bruker wyposażony jest w:
przystawkę do pomiarów osłabionego całkowitego odbicia ATR ( Attenuated Total Reflectance) z monolitycznym kryształem diamentowym umożliwiającą pomiar w zakresie 350-8000 cm-1, …
Środowiskowa sonda Kelvina
Osoba kontaktowa:
Szaciłowski Konrad
Opis techniczny:
Środowiskowa sonda Kelvina służy do pomiaru pracy wyjścia materiałów przewodzących
Laserowy dwuwiązkowy - spektrometr fotoelektryczny
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Źródło światła: dwa lasery Opolette 355 z pompą Nd:YAG wyposażoną w optyczne oscylatory parametryczne (OPO) przestrajalne w zakresie 210-2400 nm o szczytowej mocy impulsu rzędu 500 kW.
Układ detekcji: elektrochemiczna stacja robocza Z…
