Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


System do badań materiałów metodą laserowo generowanych ultradźwięków

Osoba kontaktowa: Ambroziński Łukasz
Opis techniczny: Stanowisko do bdadań nieniszczących metodą laserowo generowanych ultradźwięków służy do badania materiałów konstrukcyjnych takich jak stopy metali, materiały kompozytowe. Urządzenie pozwala na bezkontaktowe wzbudzanie i detekcję fal ul…

Radar interferometryczny IBIS-L/S

Osoba kontaktowa: Kuras Przemysław
Opis techniczny: Naziemny radar interferometryczny IBIS-L/S to precyzyjne mikrofalowe urządzenie pomiarowe, służące do zdalnego, bezdotykowego pomiaru przemieszczeń i deformacji obiektów budowlanych oraz powierzchni terenu z wysoką dokładnością. Główny…

Stanowisko do badań statycznych i dynamicznych sorpcji metodą grawimetryczną wraz ze spektrometrem

Osoba kontaktowa: Obracaj Dariusz
Opis techniczny: W pełni zautomatyzowany analizator par i gazów ze sprzężeniem magnetycznym, do badania oddziaływania na granicy  gaz – ciało stałe

Frezarka CNC EBERLE FRP 600

Osoba kontaktowa: Błoniarz Remigiusz
Opis techniczny: Frezarka CNC o konstrukcji bramowej, z magazynem na 8 narzędzi. Maszyna trójosiowa zapewniająca przesuwy osi: X= 320 mm, Y=250 mm, Z=250 mm. Powierzchnia robocza stołu wynosi 500x250 mm. Zakres obrotów wrzeciona 20-8000 obr/min, prędko…

Termowaga, kalorymetr

Osoba kontaktowa: Kargul Tomasz
Opis techniczny: Badania zmian właściwości termicznych materiałów pod wpływem zastosowanego programu temperaturowego oraz atmosfery pomiarowej. Urządzenie wyposażone jest w wagę o rozdzielczości 0.1 µg oraz piec pozwalający na wykonywanie badań w zakres…

Stanowisko laboratoryjne do badania procesu urabiania poprzez frezowanie lub wiercenie obrotowe pojedynczymi narzędziami skrawającymi lub organami

Osoba kontaktowa: Bołoz Łukasz
Opis techniczny: Przedmiotowe stanowisko służy do realizacji kompleksowych badań laboratoryjnych związanych z szeroko pojętym procesem skrawania skał. Stanowisko badawcze umożliwia realizację procesu frezowania oraz wiercenia pojedynczymi narzędziami lub organami ur…

FIB-SEM, skaningowy mikroskop elektronowy SEM z działem jonowym FIB

Osoba kontaktowa: Kruk Adam
Opis techniczny: FIB-SEM Crossbeam 350 z kolumną GEMINI i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (…

Rentgenowski skaningowy mikroanalizator fluorescencyjny

Opis techniczny: Aparatura wyposażona jest w dwie lampy rentgenowskie małej mocy (30 W) z anodami Rh i Ag. Lampa z anodą Rh wyposażona jest w soczewkę polikapilarną, umożliwiająca uzyskanie wiązki promieniowania rentgenowskiego o średnicy 20 µm. Lampa z anodą …

Profilometr optyczny

Opis techniczny: Tryb pionowej interferometrii skanującej, tryb interferometrii przesunięcia fazowego oraz tryb  łączący obydwie powyższe techniki. Pionowy zakres skanowania 10 mm ze sprzężeniem zwrotnym w zamkniętej pętli dla całego zakresu skanowania. Kamera …

Nanotwardościomierz i Nano-Scratch Tester firmy CSM Instruments

Osoba kontaktowa: Radziszewska Agnieszka
Opis techniczny: Nanotwardościomierz: Urządzenie służy do pomiaru twardości materiałów o drobnokrystalicznej strukturze, cienkich warstw. Wykonywanie pomiarów pojedynczych i cyklicznych. Możliwość nanoszenia obciążenia od 0,05 mN do 500 mN. Wyposażone …