Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Mikroskop Nikon ECLIPSE LV100POL

Opis techniczny: Umożliwia zarówno diaskopowe jak i episkopowe obserwacje polaryzacyjne. Epi-iluminator wykorzytuje źródło światła Nikon 12V50W, które zapewnia jasne oświetlenie. Mechanizm redukcji szumów zapewnia ostre obrazy o wysokim s…

Spektrometr Absorpcji Atomowej serii iCE3500

Osoba kontaktowa: Cyrana Jadwiga
Opis techniczny: Automatyczny, wielopierwiastkowy, dwuwiązkowy spektrometr absorpcji atomowej z dwoma komorami pomiarowymi, umożliwiającymi jednoczesne zainstalowanie kombinacji 2 atomizerów, takich jak płomień / piec grafitowy / przystawka do generacji wodor…

Spektrometr masowy Exploris240 z systemem nanoLC Ultimate 3000

Osoba kontaktowa: Suder Piotr
Opis techniczny: Wysokorozdzielczy spektrometr masowy (maksymalna rozdzielczość 240000) ze źródłami jonów ESI oraz nanoESI, wyposażony w kapilarny chromatograf cieczowy z dodatkowym pomiarem UV-VIS.

Stanowisko badań właściwości mechanicznych tworzyw ceramicznych

Osoba kontaktowa: Zych Łukasz
Opis techniczny: Maszyna wytrzymałościowa Zwick/Roell Z150 pozwala na wykonywanie pomiarów przy maksymalnym obciążeniu do 150kN. W zależności od zastosowanego osprzętu można wykonywać pomiary przy zginaniu (trzy i czteropunktowe podparcie) ściskaniu czy rozci…

Stanowisko do pomiaru właściwości termofizycznych materiałów

Osoba kontaktowa: Szumera Magdalena
Opis techniczny: Analizatory różnicowej kalorymetrii skaningowej DSC , termicznej analizy różnicowej DTA, termograwimetrii TG, dyfuzyjności cieplnej metodą laserową oraz dylatometr wysokotemperaturowy.

NOVA NanoSEM 200

Osoba kontaktowa: Ziąbka Magdalena
Opis techniczny: Ultrawysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG– emiter SCHOTKYEGO), współpracujący z analizatorem EDS firmy EDAX. Zdolność rozdzielcza do 2 nm,  powiększenia 70 – 500 000x.

Mikroskop konfokalny

Osoba kontaktowa: Gajek Marcin
Opis techniczny: Olympus LEXT OLS4000 to mikroskop konfokalny o wysokiej rozdzielczości przeznaczony do obrazowania powierzchni 3D oraz pomiarów chropowatości. Powiększenie (optyczne i cyfrowe) tego mikroskopu mieści się w zakresie od 108x do 17 280x. O…

Zestaw do mikroskopii skaningowej

Osoba kontaktowa: Ziąbka Magdalena
Opis techniczny: Mikroskopy SEM z kolumnami elektronowymi (FEG) oraz jonową, galową – Scios 2. Do oprzyrządowania należą spektroskopy EDS (EDAX), katodoluminescencyjny (GATAN AMETEK) oraz masowy jonów wtórnych z pomiarem czasu przelotu – TO…

Aparatura do pomiarów konduktometrycznych CMD Explorer i CMD Mini Explorer

Osoba kontaktowa: Klityński Wojciech
Opis techniczny: Aparatury CMD Explorer i CMD Mini Explorer to nowoczesne systemy pomiarowe charakteryzuje się dużą rozdzielczością zarówno pionową jak i poziomą dla ośrodków dobrze przewodzących. Aparatury uzupełniają się co do zasięgów głęboko…

Tomograf

Osoba kontaktowa: Wałach Daniel
Opis techniczny: Tomograf wyposażony w dwie lampy – Microfocus (maksymalne napięcie 300 kV) i Nanofocus (maksymalne napięcie 180 kV)