Aparatura
Bonder typu HB05 z mikroskopem optycznym i stolikiem grzejnym
Osoba kontaktowa:
Chrobak Maciej
Opis techniczny:
Bondera typu HB05 wyposażony w mikroskop optyczny i stolik grzejny umożliwia wykonanie połączeń metalicznych holder-próbka za pomocą drutu złotego lub aluminiowego o grubości 25 µm.
Profilometr do pomiarów warstw o wymiarach nanometrycznych
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
Profilometr igłowy stykowy służący badaniu chropowatości oraz falistości powierzchni z rozdzielczością 1 A oraz powtarzalnością na poziomie 4 A≤ (angstrem).
System do trawienia jonowego i nanoszenia warstw
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
W pomieszczeniu czystym klasy 1000 znajduje się urządzenie do trawienia jonowego i nanoszenia cienkich warstw Microsystems IonSys 500. System jest wyposażony w działo jonowe wraz z detektorem SIMS, który umożliwia trawien…
Zintegrowany System Pomiarów Mossbauerowskich
Osoba kontaktowa:
Cieślak Jakub
Opis techniczny:
Standardowy tor spektrometryczny z detektorem proporcjonalnym (ksenonowym) z oprogramowaniem.
Kaseta NIM z zasilaczem
Detektor proporcjonalny, ksenonowy, w osłonie z blach ołowianych
Zasilacz wysokiego napięcia Wzmacniacz i dyskryminator K…
Magnetometr VSM z kriostatem
Osoba kontaktowa:
Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny:
Magnetometr wibracyjny, typ 7407 firmy LakeShore, wuposażony w kriostat i piec pozwala na pomiar namagnesowania w funkcji temperatury (w zakresie od temperatury ciekłego azotu do 1000 ºC), w funkcji zewnętrznego pola magnetycznego (do 2.5 Tesla…
Mikroskop sił atomowych sprzężony z nanoindenterem
Osoba kontaktowa:
Szuwarzyński Michał
Opis techniczny:
Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop pracujący w układzie skanowania sondą. Maksymalny obszar skanowania wynosi 90×90 μm w zakresie poziomym i do 10 μm w zakresie pionowym. Mikro…
Chromatograf gazowy GC-MS/TCD – Shimadzu GCMS-QP2020(EI)
Osoba kontaktowa:
Mech Krzysztof
Opis techniczny:
Chromatograf gazowy wyposażony w detektory MS oraz TCD, umożliwiający analizę jakościową oraz ilościową składu fazy gazowej.
Konfiguracja:
MS – gaz nośny: He, kolumna: Agilent J&W HP-PLOT/U; l=30m; d=0.53 mm, zakres temperatury: 60 &…
Spektrofotometr UV-Vis
Osoba kontaktowa:
Lachowicz Dorota
Opis techniczny:
Spektrofotometr UV-Vis jest urządzeniem przeznaczonym do pomiarów absorbcji promieniowania elektromagnetycznego z zakresu widzialnego oraz bliskiego i średniego nadfioletu w próbkach ciekłych. Pomiary spektrofotometryczne znajdują zast…
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją falową (WD-XRF) Rigaku ZSX Primus IV
Osoba kontaktowa:
Mech Krzysztof
Opis techniczny:
ZSX Primus IV to spektrometr XRF z dyspersją długości fali do jakościowej, półilościowej i ilościowej analizy pierwiastków. Jest w stanie wykrywać pierwiastki od Be do U.
Specyfikacja:
Zakres analizowanych pierwiastków: Be…
Piece do hodowli kryształów metodą Bridgmana.
Osoba kontaktowa:
Tokarski Tomasz
Opis techniczny:
Piece do hodowli monokryształów w konfiguracji pionowej, w tyglach grafitowych lub z azotku boru. Posiadają możliwość zastosowania atmosfery ochronnej w postaci gazu obojętnego lub próżni. Piece pozwalają na krystalizację metali l…
