Aparatura
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją długości fali (WD-XRF) ZSX Primus II
Osoba kontaktowa:
Bajda Tomasz
Opis techniczny:
Spektrometr Fluorescencji Rentgenowskiej z Dyspersją Fal (WDXRF) ZSX Primus II RIGAKU umożliwia analizę jakościową i ilościową pierwiastków w zakresie od azotu (N) do uranu (U) (Z = 7 – 92).
Charakterystyka spektrometru:
lampa …
Spektrometr NMR
Jednostka:
Katedra Surowców Energetycznych
Osoba kontaktowa:
Krzyżak Artur
Opis techniczny:
Spektrometr Magritek Rock Core Analyzer (2 MHz) z systemem dyfuzyjnym, jest dedykowany do badań układów porowatych, w szczególności typu „tight". Zawiera przystawkę (Thomography system) umożliwiającą wykonywanie k…
Stanowisko badań właściwości mechanicznych tworzyw ceramicznych
Jednostka:
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Osoba kontaktowa:
Zych Łukasz
Opis techniczny:
Maszyna wytrzymałościowa Zwick/Roell Z150 pozwala na wykonywanie pomiarów przy maksymalnym obciążeniu do 150kN. W zależności od zastosowanego osprzętu można wykonywać pomiary przy zginaniu (trzy i czteropunktowe podparcie) ściskaniu czy rozci…
Stanowisko do pomiaru właściwości termofizycznych materiałów
Jednostka:
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Osoba kontaktowa:
Szumera Magdalena
Opis techniczny:
Analizatory różnicowej kalorymetrii skaningowej DSC , termicznej analizy różnicowej DTA, termograwimetrii TG, dyfuzyjności cieplnej metodą laserową oraz dylatometr wysokotemperaturowy.
NOVA NanoSEM 200
Jednostka:
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Osoba kontaktowa:
Ziąbka Magdalena
Opis techniczny:
Ultrawysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG– emiter SCHOTKYEGO), współpracujący z analizatorem EDS firmy EDAX. Zdolność rozdzielcza do 2 nm, powiększenia 70 – 500 000x.
Mikroskop konfokalny
Jednostka:
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Osoba kontaktowa:
Gajek Marcin
Opis techniczny:
Olympus LEXT OLS4000 to mikroskop konfokalny o wysokiej rozdzielczości przeznaczony do obrazowania powierzchni 3D oraz pomiarów chropowatości.
Powiększenie (optyczne i cyfrowe) tego mikroskopu mieści się w zakresie od 108x do 17 280x.
O…
Zestaw do mikroskopii skaningowej
Jednostka:
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Osoba kontaktowa:
Ziąbka Magdalena
Opis techniczny:
Mikroskopy SEM z kolumnami elektronowymi (FEG) oraz jonową, galową – Scios 2. Do oprzyrządowania należą spektroskopy EDS (EDAX), katodoluminescencyjny (GATAN AMETEK) oraz masowy jonów wtórnych z pomiarem czasu przelotu – TO…
FIB-SEM, skaningowy mikroskop elektronowy SEM z działem jonowym FIB
Osoba kontaktowa:
Kruk Adam
Opis techniczny:
FIB-SEM Crossbeam 350 z kolumną GEMINI i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (…
