Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


NOVA NanoSEM 200

Osoba kontaktowa: Ziąbka Magdalena
Opis techniczny: Ultrawysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG– emiter SCHOTKYEGO), współpracujący z analizatorem EDS firmy EDAX. Zdolność rozdzielcza do 2 nm,  powiększenia 70 – 500 000x.

Mikroskop konfokalny

Osoba kontaktowa: Gajek Marcin
Opis techniczny: Olympus LEXT OLS4000 to mikroskop konfokalny o wysokiej rozdzielczości przeznaczony do obrazowania powierzchni 3D oraz pomiarów chropowatości. Powiększenie (optyczne i cyfrowe) tego mikroskopu mieści się w zakresie od 108x do 17 280x. O…

Zestaw do mikroskopii skaningowej

Osoba kontaktowa: Ziąbka Magdalena
Opis techniczny: Mikroskopy SEM z kolumnami elektronowymi (FEG) oraz jonową, galową – Scios 2. Do oprzyrządowania należą spektroskopy EDS (EDAX), katodoluminescencyjny (GATAN AMETEK) oraz masowy jonów wtórnych z pomiarem czasu przelotu – TO…

FIB-SEM, skaningowy mikroskop elektronowy SEM z działem jonowym FIB

Osoba kontaktowa: Kruk Adam
Opis techniczny: FIB-SEM Crossbeam 350 z kolumną GEMINI i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (…